Leica Cleanliness Expert für quantitative Partikelanalyse
Für die quantitative Sauberkeitsanalyse von Hochleistungsbauteilen bietet Leica Microsystems das Komplettsystem Leica Cleanliness Expert.
Es besteht aus einem vollautomatisierten Auflichtmikroskop, einer Digitalkamera und einem Bildanalysesystem. Da sowohl Länge und Breite als auch die Höhe der Partikel funktionskritische Parameter sein können, bietet Leica Cleanliness Expert diese zusätzliche Dimension als Messgröße. Der Vorteil: Mehr Sicherheit in der Bestimmung der Bauteilsauberkeit. Fasern und Partikel werden im Live-Bild detektiert und können in reflektierend und nicht-reflektierend unterschieden werden. Messparameter und Systemeinstellungen sind vollständig reproduzierbar; alle Veränderungen werden automatisch im Report dokumentiert. Ein Scanning-Algorithmus erlaubt es, Partikel in beliebiger Größe zu detektieren, in der Ergebnisliste zu reklassifizieren und zu dokumentieren.
Special parts2clean 2011
Die parts2clean bietet ihren Besuchern die einmalige Gelegenheit, sich durch die praxisorientierte Vorträge namhafter Experten aus Industrie, Wissenschaft und Forschung einen umfassenden Überblick zu aktuellen Entwicklungen, neuen Anforderungen und Trends in der Reinigungstechnik zu verschaffen. Die Sonderschau zur Prozesskette der industriellen Teilereinigung bietet darüber hinaus Anregungen und Know-how, den eigenen Reinigungsprozess zu optimieren.
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